自動(dòng)清潔度檢查系統(tǒng)
高整合的自動(dòng)分析系統(tǒng) Automatic Analysis System整合進(jìn)口顯微鏡、進(jìn)口數(shù)碼設(shè)備、進(jìn)口 XYZ-3軸電動(dòng)掃描臺(tái)；項(xiàng)目化管理、流程化操作。可檢測零件清潔度、油液清潔度、鐵譜顆粒統(tǒng)計(jì)等。
自動(dòng)掃描樣品 Auto Scan，Support Multiple Scanning Area
支持多種掃描方式：矩形區(qū)域、圓形區(qū)域等；滿足各種應(yīng)用需要；同時(shí)可測量零件清潔度、油液清潔度、鐵譜分析等。提供夾具，使樣品更平整。
多種自動(dòng)聚焦算法 Multiple Automatic Focus Algorithm
支持多種聚焦模式：補(bǔ)償聚焦、跟蹤聚焦、手動(dòng)聚焦、EFI聚焦等。采用聚焦算法，保證在試樣不夠平整的情況下也能獲取清晰的圖像；
自動(dòng)拍照、視場自動(dòng)定位 Automatic Camera and Field Position
采集過程自動(dòng)拍照、照片自動(dòng)保存，進(jìn)度狀態(tài)實(shí)時(shí)可見；照片信息存入數(shù)據(jù)庫，方便查詢；提供視場圖片瀏覽功能，可以實(shí)現(xiàn)視場定位回溯、重新拍照等功能。
多種檢測標(biāo)準(zhǔn) Multi Testing Standard
支持多種國際國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)，包括 ISO16232、ISO4406、ISO4407、NAS1638、VDA19、 STD4189、GB/T20082、GB/T14039等；支持用戶自定義評級標(biāo)準(zhǔn)。支持金屬、非金屬、纖維顆粒識(shí)別統(tǒng)計(jì)；支持顆粒高度測量。
自動(dòng)識(shí)別反光顆粒、不反光顆粒、纖維 Auto Analysis
系統(tǒng)自動(dòng)識(shí)別顆粒，可以同時(shí)檢查出不反光顆粒和反光顆粒（一般為金屬顆粒）、纖維。自動(dòng)對三種顆粒進(jìn)行檢查分類。支持設(shè)置各種顆粒的合格區(qū)間。支持自定義三種顆粒的區(qū)分設(shè)置。支持陰影校正、提高識(shí)別精度；
支持跨視野超大顆粒、自動(dòng)校正偏移
系統(tǒng)自動(dòng)識(shí)別顆粒、自動(dòng)分析顆粒類別、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)顆粒參數(shù)。同時(shí)支持修改顆粒。
提供多種統(tǒng)計(jì)分析工具：MAP圖、顆粒列表、統(tǒng)計(jì)結(jié)果、直方圖等；
自動(dòng)校準(zhǔn)掃描系統(tǒng)。
統(tǒng)計(jì)與分析 Analysis and Statistics系統(tǒng)自動(dòng)識(shí)別顆粒、自動(dòng)分析顆粒類別、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)顆粒參數(shù)。同時(shí)支持修改顆粒。提供多種統(tǒng)計(jì)分析工具：MAP圖、顆粒列表、統(tǒng)計(jì)結(jié)果、直方圖等；
可靠的數(shù)據(jù)交互功能
所有檢測原始圖片和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)都會(huì)自動(dòng)存儲(chǔ)，方便出現(xiàn)問題時(shí)隨時(shí)復(fù)查。所有顆粒數(shù)據(jù)可快速瀏覽、定位、排序。支持管理員進(jìn)行顆粒數(shù)據(jù)修正功能，解決特殊顆粒及聚集顆粒識(shí)別問題。
清潔度報(bào)告 Professional Cleanliness Report
支持模板化報(bào)告生成模式，包含統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)、評級、濾片全貌圖、zui大顆粒照片等信息；可選擇多種報(bào)告模式。
用心服務(wù)放心使用
服務(wù)在于您的需要不只是一件產(chǎn)品，而在于您的企業(yè)或科研發(fā)展的同時(shí)，有我們對您的要求和需要一呼即應(yīng)。良好長久的合作、使您獲得更大利益便是我們成功之處。
該系統(tǒng)自問世以來，深受廣大工廠、企業(yè)、大學(xué)及研究所等用戶的信賴和支持；一旦獲取，終生免費(fèi)升級。
