AFM原子力顯微鏡，能提供原子或近原子及分辨率的表面形貌圖像，有納米尺度檢測(cè)能力的設(shè)備。下面簡(jiǎn)單和大家介紹AFM原子力顯微鏡。

●AFM是工業(yè)型原子力顯微鏡的英文縮寫，它根據(jù)工作模式不同分為輕敲模式（Tapping mode)、接觸模式（Contact mode）、力曲線測(cè)量模式（F-Z 曲線，RMS-Z 曲線）。具體選那種模式觀察好呢？還是根據(jù)您產(chǎn)品檢測(cè)需求來。

●AFM原子力顯微鏡掃面原理是利用針尖尖端原子與 樣品表面原子間存在極微弱的范德華力，得到樣品三維表面形態(tài)影像

●AFM原子力顯微鏡支持2到8英寸晶圓表面形貌質(zhì)量檢測(cè)。

●AFM原子力顯微鏡掃描器不受樣品大小，重量限制。

●顯微鏡XYZ三軸均采用壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)探針針尖進(jìn)行掃描，工作掃描時(shí)樣品保持不動(dòng)。

●AFM工業(yè)型原子力顯微鏡主要用于針對(duì)表面的形貌如粗糙度、局部微觀輪廓

匯光科技也做過許多AFM原子力顯微鏡檢測(cè)相關(guān)案子，如硅晶圓表面刻蝕不規(guī)則深孔結(jié)、芯片刻蝕結(jié)構(gòu)、SiC晶圓片檢測(cè)、GaN晶圓片檢測(cè)、玻璃面板、光學(xué)玻璃檢測(cè)、高深寬比光柵檢測(cè)等，

據(jù)小編所知，一臺(tái)AFM原子力顯微鏡采購(gòu)價(jià)格需幾十萬，若貴司有采購(gòu)需求，不妨先來匯光科技看一看哦。